近日，安東帕憑借其近 60 年在粒度測量領域的專業(yè)積累，重磅推出新一代Litesizer DIF 激光衍射粒度儀和 Litesizer DLS 系列動態(tài)光散射粒度儀，為眾多行業(yè)的粒度及相關參數(shù)測量帶來全新解決方案。 

 Litesizer DIF 激光衍射粒度儀 

 Litesizer DIF 激光衍射粒度儀在傳承其前身PSA的寶貴經(jīng)驗之上，成功拓寬了測量范圍，能夠覆蓋從0.01µm至3500µm的廣泛粒徑樣品。該儀器搭載了的光學組件，配置了高性能的10 mW與25 mW激光器，以及的 0.01° 到 170° 的寬范圍衍射角檢測器陣列。其先進的粒度測量軟件Kalliope極大地簡化了操作流程，用戶僅需簡單三步（設定參數(shù)、采集數(shù)據(jù)、處理結(jié)果），每次點擊即可輕松啟動測量，無需繁復培訓。此外，堅固的金屬外殼與隔離式光學平臺設計，確保了Litesizer DIF在各種環(huán)境中都能表現(xiàn)出色，無論是生產(chǎn)現(xiàn)場還是實驗室環(huán)境，均能提供可靠的測量性能。該新品適用于水泥和礦物、制藥、食品飲料、化工、催化劑、金屬粉末等領域。 

 Litesizer DLS 系列動態(tài)光散射粒度和 Zeta 電位分析儀 

 Litesizer DLS系列動態(tài)光散射粒度和 Zeta 電位分析儀包含101、501、701三個型號，可滿足各行業(yè)的多樣化顆粒測試需求，適用于制藥、生命科學、化學工業(yè)、食品飲料、重工業(yè)和石油、廢水和造紙、半導體和電池等行業(yè)。該系列具有業(yè)界先進的多角度測量和自動角度選擇功能，有效減少測量誤差；更為先進的 MAPS（多角度協(xié)同粒度測量）技術可實現(xiàn)最高的峰值分辨率。其連續(xù)透射率監(jiān)測可在測量過程中檢測沉降和團聚，進而提高測量的可靠性。此外，的cmPALS 和 Omega Cuvette 通過解決老化效應并降低電勢梯度，極大提高了 Zeta 電位測量的準確性和可重復性。Litesizer DLS 701作為該系列的旗艦產(chǎn)品，集所有測量模式于一身，能夠進行粒度、Zeta 電位、分子量、折光率、顆粒濃度、透光率測量，真正做到了一臺儀器滿足多種分析需求。